溫度沖擊老化實(shí)驗(yàn)測試箱提供溫度瞬間變化環(huán)境，供用戶對整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫度試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價(jià)。暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程不可少的重要試驗(yàn)手段。

溫度沖擊老化實(shí)驗(yàn)測試箱分為高溫室、低溫室、測試室三部分,采之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗(yàn)時(shí)待測物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。

可選擇的容積有如下：

50L內(nèi)箱尺寸為360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)。

80L內(nèi)箱尺寸為500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)。

150L內(nèi)箱尺寸為600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)。

250L內(nèi)箱尺寸為700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)。

512L內(nèi)箱尺寸為800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)。

1000L內(nèi)箱尺寸為1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準(zhǔn)。

滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫。

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B: 高溫。

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則。

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)。

GB/T 2423.22-2002溫度變化。

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則。

GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)。

GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)。

GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)。

GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法。

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)。

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)。

IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化。

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。